آر ايف پائيدار گھٽ اندراج نقصان ويفر ٽيسٽ پروبس

آر ايف پائيدار گھٽ اندراج نقصان ويفر ٽيسٽ پروبس

خاصيتون:

پائيدار
گھٽ داخل ٿيڻ
نقصان گھٽ VSWR

درخواستون:

مائڪرو ويڪرو ٽيسٽ

ھاڻي رابطو ڪريو

جاچ

پروبس اليڪٽرانڪ ڊوائيسز آهن جيڪي ماپڻ يا جانچڻ لاءِ استعمال ٿيل آهن برقي سگنلن يا ملڪيتن کي اليڪٽرڪ سرڪٽس ۾.اهي عام طور تي سرڪٽ يا جزو جي ماپ ٿيڻ بابت ڊيٽا گڏ ڪرڻ لاءِ هڪ آسيلو اسڪوپ، ملٽي ميٽر، يا ٻئي ٽيسٽ سامان سان ڳنڍيل هوندا آهن.

خاصيتون شامل آهن:

1.Durable RF تحقيق
2. 100/150/200/25 مائڪرون جي چئن فاصلن تي دستياب
3.DC کان 67 GHz
4. داخل ٿيڻ جو نقصان 1.4 ڊي بي کان گھٽ
5.VSWR 1.45dB کان گھٽ
6.Beryllium ٽامي مواد
7. اعلي موجوده نسخو دستياب (4A)
8.Light indentation ۽ معتبر ڪارڪردگي
9.Anti oxidation nickel مصر جي جاچ ٽپ
10.Custom ترتيبون دستياب
11. موزون آن چپ ٽيسٽنگ، جنڪشن پيٽرولر ڪڍڻ، MEMS پراڊڪٽ ٽيسٽنگ، ۽ مائڪرو ويڪرو انٽيگريٽڊ سرڪٽس جي چپ اينٽينا ٽيسٽنگ لاءِ

فائدو:

1. بهترين ماپ جي درستگي ۽ repeatability
2. گھٽ ۾ گھٽ نقصان ايلومينيم پيڊن تي مختصر خرچن جي ڪري
3. عام رابطي جي مزاحمت<0.03Ω

ھيٺ ڏنل آھن ڪجھ عام ايپليڪيشن جا علائقا آر ايف جي تحقيقات جا:

1. آر ايف سرڪٽ ٽيسٽ:
آر ايف جي تحقيقات آر ايف سرڪٽ جي امتحان واري پوائنٽ سان ڳنڍي سگھجن ٿيون، سرڪٽ جي ڪارڪردگي ۽ استحڪام جو جائزو وٺڻ لاء سگنل جي طول و عرض، مرحلو، فریکوئنسي ۽ ٻين پيٽرولن کي ماپ ڪري.اهو آر ايف پاور ايمپليفائر، فلٽر، ميڪر، ايمپليفائر ۽ ٻين آر ايف سرڪٽ کي جانچڻ لاء استعمال ڪري سگهجي ٿو.
2. وائرليس ڪميونيڪيشن سسٽم ٽيسٽ:
آر ايف پروب وائرليس ڪميونيڪيشن ڊيوائسز کي جانچڻ لاءِ استعمال ڪري سگهجي ٿو، جهڙوڪ موبائل فون، وائي فائي روٽر، بلوٽوٿ ڊيوائسز وغيره. انحراف کي ماپ ڪري سگھجي ٿو ڊوائيس جي ڪارڪردگي جو جائزو وٺڻ ۽ گائيڊ سسٽم ڊيبگنگ ۽ اصلاح ڪرڻ.
3. آر ايف اينٽينا ٽيسٽ:
آر ايف پروب استعمال ڪري سگھجي ٿو تابڪاري خاصيتن کي ماپڻ لاءِ اينٽينا ۽ ان پٽ رڪاوٽ.اينٽينا جي جوڙجڪ کي آر ايف جي جاچ کي ڇڪڻ سان، اينٽينا جي VSWR (وولٽيج اسٽينڊ ويو تناسب)، تابڪاري موڊ، حاصل ۽ ٻيا پيٽرول ماپ ڪري سگهجن ٿا اينٽينا جي ڪارڪردگي جو جائزو وٺڻ ۽ اينٽينا جي ڊيزائن ۽ اصلاح کي انجام ڏيڻ لاءِ.
4. آر ايف سگنل مانيٽرنگ:
سسٽم ۾ آر ايف سگنل جي منتقلي جي نگراني ڪرڻ لاء آر ايف جي تحقيق استعمال ڪري سگهجي ٿي.اهو استعمال ڪري سگهجي ٿو سگنل جي تڪليف، مداخلت، عکاسي ۽ ٻين مسئلن کي ڳولڻ، سسٽم ۾ نقص ڳولڻ ۽ تشخيص ڪرڻ، ۽ لاڳاپيل سار سنڀال ۽ ڊيبگنگ ڪم جي رهنمائي ڪرڻ لاء.
5. برقي مقناطيسي مطابقت (EMC) ٽيسٽ:
آر ايف جاچ استعمال ڪري سگھجن ٿيون EMC ٽيسٽ انجام ڏيڻ لاءِ اليڪٽرانڪ ڊوائيسز جي حساسيت جو اندازو لڳائڻ لاءِ ته چوڌاري ماحول ۾ آر ايف جي مداخلت.ڊوائيس جي ويجهو آر ايف جي تحقيق کي رکڻ سان، اهو ممڪن آهي ته ڊوائيس جي ردعمل کي ماپڻ لاء ٻاهرين آر ايف فيلڊز ۽ ان جي EMC ڪارڪردگي جو جائزو وٺو.

QualwaveInc. مهيا ڪري ٿو DC~67GHz هاءِ فريڪوئنسي پروبس، جن ۾ خاصيتون آهن ڊگھي سروس لائف، گهٽ VSWR ۽ گهٽ اندراج نقصان، ۽ مائڪرو ويڪرو ٽيسٽ ۽ ٻين علائقن لاءِ موزون آهن.

سنگل پورٽ پروبس
حصو نمبر	ڊيٽا شيٽ	تعدد (GHz)	پچ (μm)	ٽپ جو سائز (م)	IL (dB Max.)	VSWR (وڌ کان وڌ)	ٺاھ جوڙ	چڙهڻ جو انداز	ڳنڍيندڙ	پاور (W Max.)	ليڊ ٽائيم (هفتو)
QSP-26		ڊي سي ~ 26	200	30	0.6	1.45	SG	45	2.92mm	-	2 ~ 8
QSP-40		ڊي سي ~ 40	125/150/250/300	30	1	1.7	GS/SG/GSG	45	2.92mm	-	2 ~ 8
QSP-50		ڊي سي ~ 50	150	30	0.8	1.4	جي ايس جي	45	2.4 ملي ميٽر	-	2 ~ 8
QSP-67		ڊي سي ~ 67	100/125/150/240/250	30	1.5	1.7	GS/SG/GSG	45	1.85mm	-	2 ~ 8
QSP-110		ڊي سي ~ 110	50/75/100/125	30	1.5	2	جي ايس / جي ايس جي	45	1.0mm	-	2 ~ 8
ڊبل پورٽ پروبس
حصو نمبر	ڊيٽا شيٽ	تعدد (GHz)	پچ (μm)	ٽپ جي ماپ (米m)	IL (dB Max.)	VSWR (وڌ کان وڌ)	ٺاھ جوڙ	چڙهڻ جو انداز	ڳنڍيندڙ	پاور (W Max.)	ليڊ ٽائيم (هفتو)
QDP-67		ڊي سي ~ 67	100/125/150/200	30	1.2	1.7	SS/GSSG/GSGSG	45	1.85mm	-	2 ~ 8